Beauty production in pp collisions at root s=2.76 TeV measured via semi-electronic decays

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Beauty production in pp collisions at root s=2.76 TeV measured via semi-electronic decays

Autor(en): Abelev, B.; Adam, J.; Adamova, D.; Aggarwal, M. M.; Rinella, G. Aglieri; Agnello, M.; Agostinelli, A.; Agrawal, N.; Ahammed, Z.; Ahmad, N.; Ahmed, I.; Ahn, S. U.; Ahn, S. A.; Aimo, I.; Aiola, S.; Ajaz, M.; Akindinov, A.; Alam, S. N.; Aleksandrov, D.; Alessandro, B.; Alexandre, D.; Alici, A.; Alkin, A.; Alme, J.; Alt, T.; Altinpinar, S.; Altsybeev, I.; Alves Garcia Prado, C.; Andrei, C.; Andronic, A.; Anguelov, V.; Anielski, J.; Anticic, T.; Antinori, F.; Antonioli, P.; Aphecetche, L.; Appelshaeuser, H.; Arcelli, S.; Armesto, N.; Arnaldi, R.; Aronsson, T.; Arsene, I. C.; Arslandok, M.; Augustinus, A.; Averbeck, R.; Awes, T. C.; Azmi, M. D.; Bach, M.; Badala, A.; Baek, Y. W.; Bagnasco, S.; Bailhache, R.; Bala, R.; Baldisseri, A.; Pedrosa, F. Baltasar Dos Santos; Baral, R. C.; Barbera, R.; Barile, F.; Barnafoldi, G. G.; Barnby, L. S.; Barret, V.; Bartke, J.; Basile, M.; Bastid, N.; Basu, S.; Bathen, B.; Batigne, G.; Camejo, A. Batista; Batyunya, B.; Batzing, P. C.; Baumann, C.; Bearden, I. G.; Beck, H.; Bedda, C.; Behera, N. K.; Belikov, I.; Bellini, F.; Bellwied, R.; Belmont-Moreno, E.; Belmont, R., III; Belyaev, V.; Bencedi, G.; Beole, S.; Berceanu, I.; Bercuci, A.; Berdnikov, Y.; Berenyi, D.; Berger, M. E.; Bertens, R. A.; Berzano, D.; Betev, L.; Bhasin, A.; Bhat, I. R.; Bhati, A. K.; Bhattacharjee, B.; Bhom, J.; Bianchi, L.; Bianchi, N.; Bianchin, C.; Bielcik, J.; Bielcikovca, J.
Tübinger Autor(en):
Heß, Benjamin Andreas
Wiechula, Jens
Schmidt, Hans Rudolf
Erschienen in: Physics Letters B (2014), Bd. 738, S. 97-108
Verlagsangabe: Elsevier Science Bv
Sprache: Englisch
Referenz zum Volltext: http://dx.doi.org/10.1016/j.physletb.2014.09.026
ISSN: 0370-2693
DDC-Klassifikation: 530 - Physik
Dokumentart: Wissenschaftlicher Artikel
Kommentar: mehr als 100 Autoren
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