Auger electron spectroscopy and UV-Vis spectroscopy in combination with multivariate curve resolution analysis to determine the Cu2O/CuO ratios in oxide layers on technical copper surfaces

Autor(en):

Stiedl, Jan; Green, Simon; Chasse, Thomas; Rebner, Karsten

Tübinger Autor(en):

Erschienen in:

Applied Surface Science (2019), Bd. 486, S. 354-361

Verlagsangabe:

Elsevier Science Bv

Sprache:

Englisch

Referenz zum Volltext:

ISSN:

1873-5584

DDC-Klassifikation:

530 - Physik
540 - Chemie
600 - Technik

Dokumentart:

Wissenschaftlicher Artikel

Das Dokument erscheint in: